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IC测试座-IC老化座-IC烧录座批发-鸿怡电子HMILU 创新型 专精特新企业 订购热线：13632719880 首页 产品中心 产品解决方案 定制IC测试座 老化板定制 资讯 品牌 联系鸿怡 采购 联系鸿怡 常见问答 01 - 03 产品中心自主研发·生产·销售·售后一条龙服务，支持零售·批发·定制·开模 非标定制测试座 现货标准品 QFN/DFN封装系列 BGA封装系列 QFP/OTQ封装系列 SOP/OTS封装系列 TO封装系列 LGA封装系列 WLCSP封装系列 LCC/CLCC封装系列 EMMC/EMCP/UFS SOT封装系列 LPDDR-GDDR-DDR系列 SMA/SMB/SMD系列 SSD-flash存储系列 有源/无源晶振系列 电阻电容电感系列 模块测试座 IGBT和新能源系列 军品/科研/航空 定制晶圆级wlcsp35封装测试座烧录夹具 晶圆级WLCSP封装测试座： 1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For1 Minute At AC 700V 3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通) 5、额定电流:1A max/Pin. 6、工作温度:-55°C ~+155°C 7、机械寿命:大于10万次 8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量) 9、测试座结构:合金翻盖式 10、测试座材料:AL6061+peek 11、中心引脚间距:0.5mm 12、适配芯片尺寸:2.3x5.8mm 联系工程师：黄小二13622364332 邮箱：huang@hydz999.com 金手指100(50x2)-3.175老化插槽805总线插座 技术参数： 1、工作温度：-55℃~+175℃ 2、座体材质： PPS/LCP 3、镀覆：镀金10mil 4、额定电流≤5A(at150°) 5、耐压：2000 V 6、接触电阻≤20mΩ 7、绝缘电阻：500VDC≥1×109Ω 8、频率≤20MHZ 9、机械寿命：≥30000次 10、使用寿命：≥50000小时 11.插拔力：5KG. 电话：vx同号 13622364332（黄小二） 邮箱：huang@hydz999.com 定制QFN32-0.5(5x5)烧录座open top QFN32pin芯片测试座参数： 适配IC尺寸：5*5*0.85mm 间距：0.5mm 结构：OPEN TOP Socket壳体：PEI+PEEK 频率：≤2.4Ghz 最大电流：1A 使用温度：-45°C-+125°C 机械寿命：大于80000次(机械测试) 销售工程师：黄小二13622364332(VX同步) 邮箱：huang@hydz999.com 定制晶圆级wlcsp35封装测试座烧录夹具 晶圆级WLCSP封装测试座： 1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For1 Minute At AC 700V 3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通) 5、额定电流:1A max/Pin. 6、工作温度:-55°C ~+155°C 7、机械寿命:大于10万次 8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量) 9、测试座结构:合金翻盖式 10、测试座材料:AL6061+peek 11、中心引脚间距:0.5mm 12、适配芯片尺寸:2.3x5.8mm 联系工程师：黄小二13622364332 邮箱：huang@hydz999.com 定制QFP100-0.5 16x16x1.1合金旋钮探针测试座 定制QFP100-0.5 16x16x1.1合金旋钮探针测试座产品特点及规格 Socket本体：合金+PEEK Socket结构：旋钮翻盖式 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for lminute 绝缘阻抗：1000m500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C-+125*C 机械寿命：大于15000次(机械测试) 定制CSOP6-4.9电源管理芯片测试座夹具socket 定制CSOP6pin芯片测试座参数： 绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 耐电压:For 1 Minute AtAC 700V 接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 额定电流:1Amax/Pin. 工作温度:-55°C~+150°C 使用寿命:大于15,000 Times(Mechanical) 操作力:1.0Kg MAX 测试座结构:翻盖式 测试座材料:合金+PEEK 销售工程师：黄小二：13622364332（VX同步） 邮箱：huang@hydz999.com 标品TO247-2pin器件老化测试座 TO247-2L整流器老练插座参数: 壳体材质:PEEK; 接触端子:进口铍铜，触点镀厚金 高温性能: 1.120℃-135℃，连续使用大于5000 小时; 2.135℃-150℃，连续使用时长大于200 小时; 机械性能:插拔次数50000次; 额定电流:20A 每pin拔插力度:25g/ pin 定制LGA19pin-0.4mm芯片测试座socket SPECIFICATION 1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For1 Minute At AC 700V 3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通) 5、额定电流:1A max/Pin. 6、工作温度:-45°C ~+125°C 7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical) 8、操作力:1.0Kg MAX 9、中心引脚间距:0.4mm 10、适配芯片尺寸:3*3*1.41mm 定制晶圆级wlcsp35封装测试座烧录夹具 晶圆级WLCSP封装测试座： 1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For1 Minute At AC 700V 3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通) 5、额定电流:1A max/Pin. 6、工作温度:-55°C ~+155°C 7、机械寿命:大于10万次 8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量) 9、测试座结构:合金翻盖式 10、测试座材料:AL6061+peek 11、中心引脚间距:0.5mm 12、适配芯片尺寸:2.3x5.8mm 联系工程师：黄小二13622364332 邮箱：huang@hydz999.com 定制CLCC48-0.8 - 10.9*10.9*2.96mm芯片测试座 支持频率：≤200Mhz 温度范围：-45℃-125℃ 操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大 额定电流：单PIN1A max 接触电阻：≤50毫欧 绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上 机械寿命：>1.5万次 中心引脚间距:0.8mm 适配芯片尺寸:10.9*10.9*2.96mm 定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座 UFS153pin存储芯片测试座参数： 实际下针87pin 绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 耐电压:For 1 Minute At AC 700V 接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial) 额定电流:1Amax/Pin. 工作温度:-55°C ~+125°C 最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试)，HS400/HS200 操作力:15~30g/Pin MAX 定制SOT/TO220-3L-HTOL老化试验板 适用于TO‑220老化板，多用于 MOS 管、三极管、稳压管等功率分立器件高温老化筛选。 板上排布多只 TO‑220 老化测试座（Socket），批量安装 TO‑220 封装功率器件；提供电源、偏置电压、负载回路，给待测管子施加规定电压、电流应力。 配合高温老化箱，在高温（通常 100‑150℃）环境下长时间通电加载应力，加速激发芯片内部缺陷：栅氧缺陷、晶圆瑕疵、封装漏电、键合不良等，把 “早期容易坏” 的器件提前测坏筛掉，符合浴盆曲线筛选逻辑。 支持定制各种IC/芯片封装的 HTRB HTGB H3TRB HAST IOL老化板(Burn-in Board)。 销售工程师：黄小二13622364332(VX同步)，huang@hydz999.com 定制BGA96pin-0.8mm芯片ATE测试座socket SPECIFICATION 1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For1 Minute At AC 700V 3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通) 5、额定电流:1A max/Pin. 6、工作温度:-45°C ~+125°C 7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical) 8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量) 9、测试座结构:翻盖式 10、测试座材料:合金+PEEK 11、中心引脚间距:0.8mm 12、适配芯片尺寸:7.5*13.3mm 定制SMD封装LED灯珠翻盖探针式测试座 SPECIFICATION 1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For 1 Minute At DC 500V 3、接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial) 4、额定电流:1Amax/Pin. 5、工作温度:-45~125℃ DDR5X8-82ball一拖八导电胶内存条测试治具 绝缘阻抗：1000mΩ Min.At DC 500V 耐电压：For 1 Minute AtAC 700V 接触阻抗：100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 额定电流：1A max/Pin 工作温度：-55°℃ ~+125°C 最高测试速率：7800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket) 操作力：15~30g/Pin MAX 定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座 定制5032（8PIN）-1.27 5X3.2X1.6晶振翻盖测试座参数： 支持频率：≤1Ghz 温度范围：-40℃~125℃ 操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大 额定电流：单PIN 1A max 接触电阻：≤50毫欧 绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上 机械寿命：>1.5万次 定制电容4pin合金翻盖无针测试座socket 4pin电容测试座参数： 绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 耐电压:For 1 Minute AtAC 700V 接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial) 额定电流:1Amax/Pin.可过6A 工作温度:-45°C~+125°C T2PAK封装SiC老化座夹具socket T2PAK封装老化座参数： Socket壳体：PEI 测试座结构：open top 接触Pin针：铍铜镀镍镀金 接触阻抗：＜100mΩ 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C ~ +150°C 老化寿命：大于3000小时 机械寿命：大于15000次(机械测试) 销售工程师：黄小二13622364332(vx同步) 邮箱：huang@hydz999.com T2PAK封装SiC老化座夹具socket T2PAK封装老化座参数： Socket壳体：PEI 测试座结构：open top 接触Pin针：铍铜镀镍镀金 接触阻抗：＜100mΩ 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C ~ +150°C 老化寿命：大于3000小时 机械寿命：大于15000次(机械测试) 销售工程师：黄小二13622364332(vx同步) 邮箱：huang@hydz999.com T2PAK封装SiC老化座夹具socket T2PAK封装老化座参数： Socket壳体：PEI 测试座结构：open top 接触Pin针：铍铜镀镍镀金 接触阻抗：＜100mΩ 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C ~ +150°C 老化寿命：大于3000小时 机械寿命：大于15000次(机械测试) 销售工程师：黄小二13622364332(vx同步) 邮箱：huang@hydz999.com 产品推荐more+ 定制晶圆级wlcsp35封装测试座烧录夹具 T2PAK封装SiC老化座夹具socket 定制QFN32-0.5(5x5)烧录座open top 定制DFN14-80工位老化板-HAST试验 定制QFN40-HTOL老化板Burn‑in Board 定制SOT/TO220-3L-HTOL老化试验板 定制DFN46-0.4(4.5x6.5)翻盖老化座socket 定制DFN10-2x3开尔文测试座Kelvin socket 定制CSOP6-4.9电源管理芯片测试座夹具socket 定制陶瓷封装CSOP16-1.27测试座socket 鸿怡电子HMILU品牌测试座在行业应用中的解决方案 01消费电子CPU/GPU/NPU内存闪存图像传感器电源管理芯片WIFI/蓝牙芯片驱动芯片微控制器加速度计陀螺仪芯片 02汽车电子超高算力AI芯片定位芯片传感器芯片毫米波雷达导航芯片SOC芯片电池管理芯片DC/DC转换芯片控制芯片通信芯片 03医疗电子探测器芯片超低功耗微控制器芯片光学检测芯片流体控制芯片专用传感器芯片图像处理芯片数据处理芯片 04航空航天信号处理芯片控制芯片处理器芯片传感器芯片导航芯片GPS模块/芯片 05通信与网络射频芯片硅芯片光电模块/芯片光纤通信芯片服务器CPU/GPU/DPUNFC芯片收发信号芯片FPGA 06工业自动化与制造通信接口芯片I/O处理芯片功率半导体高速处理器芯片图像传感器监测传感器芯片微控制器芯片通信芯片 07能源与动力通信芯片微控制器芯片电池管理系统芯片IGBT驱动芯片功率MOSFETSIC/GaN功率器件 08计算与数据中心CPUGPUAI加速器芯片内存存储控制器网络接口卡芯片电源管理芯片高性能处理器SSD控制器芯片DRAM芯片NOr Flash芯片 鸿怡质造·中国芯片检验方案服务标杆品牌卓越品质服务至上 雄厚的企业实力 自有工厂·您的放心之选 雄厚的企业实力自有工厂 您的放心之选鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket，产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC /connector/IMU socket等，针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制。公司拥有现货标准品--加工定制品---开模定制品三大产线，满足您的各项测试需求！ 采用进口玻铜材料 弹性好·寿命长·抗老化 采用进口玻铜材料 弹性好·寿命长·抗老化人性化设计，探针可更换，便于拆卸、维护，降低测试成本；耐高低温范围在：-55℃-175℃，使用寿命高达10万次以上；产品可做到测试间距Pitch=0.2mm；探针结构，IC有锡球，无锡球都可以测试 完善的质量保证体系 测试准确率达99% 完善的质量保证体系测试准确率达99%进口探针配合高精度模具，IC测试更稳定，提高使用效率；产品在确保接触稳定牢固的同时，减少了安装时间，省时省力；焊接安装操作极其方便，用户自己可安装，无须专业技术人员安装 金牌售后服务 免费技术服务支持 金牌售后服务自有工厂 免费技术服务支持产品若有任何质量问题，支持7天内免费退换；保质三个月，免费的技术支持服务，终身保修；厂家直销，产品交期快，现货订购，及时下单，及时发货 cooperation 感恩前行23年来为众多客户提供优质服务 为加快半导体国产替代“芯进程”，鸿怡电子作为半导体测试/老化耗材的“第一梯队”，勇于担当，筑牢国产半导体自主测试“防线”，坚持“技术是根、创新是魂、人才为本”，并以“三个留人”理念（事业、待遇、文化）构建人才高地。 rotatex rotatey rotatez 他们共同见证了鸿怡电子 鸿怡电子生产的QFP144pin芯片ATE自动化测试座案例 鸿怡电子生产的QFP封装芯片测试座,老化座,烧录座被广泛运用于各种电气连接和测试环境中。QFP封装实... 点击视频 鸿怡电子生产的芯片测试座案例分享 鸿怡电子的每一款芯片测试座在发货之前都会进行各项出厂前的质量检测。主要适用于芯片的快速验证，ATE自... 点击视频 鸿怡电子生产的一拖多工位芯片测试座案例分享 鸿怡电子生产的一拖多工位芯片测试座用于芯片的快速验证，ATE自动化测试.适用于BGA，QFN，DFN... 点击视频 鸿怡电子HMILU邮票孔模块ATE自动化烧录座案例分享 鸿怡电子HMILU邮票孔模块ATE自动化烧录座适用于各类IC、邮票孔模块的快速验证，模块ATE自动化... 点击视频 鸿怡电子生产的805金手指高温总线老化插槽产品案例 鸿怡电子生产的金手指高温连接器被广泛运用于各种电气连接和测试环境中。金手指实际上是由铜制成的导电条，... 点击视频 鸿怡电子生产的QFN翻盖式ATE自动化测试座案例分享 鸿怡电子生产的QFN翻盖式ATE自动化测试座用于QFN芯片的快速验证，ATE自动化测试、老化、烧录.... 点击视频 More 走进鸿怡 二十三年前，深圳市鸿怡电子有限公司的董事长发现中国人一直都是用进口的测试座，价格非常昂贵且没有售后可言，于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质测试座的想法。公司经过23年发展，终于成为今天集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，在深圳--苏州--武汉都有生产工厂，占地面积超过五千平米... 工厂环境 荣誉资质 企业风采 新闻资讯关注一手资讯，不断持续精进 鸿怡动态 行业动态 常见问答 more+ 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